云母鉑電阻、玻璃鉑電阻、內(nèi)繞式陶瓷鉑電阻、膜式鉑電阻產(chǎn)品分析
云母鉑電阻、玻璃鉑電阻、內(nèi)繞式陶瓷鉑電阻、膜式鉑電阻產(chǎn)品分析鉑電阻的耐溫高低取決于骨架的耐溫質(zhì)量和結(jié)構(gòu)形式。
以上幾種鉑電阻前三種電阻都屬于線繞在骨架上或骨架內(nèi)，都存在熱狀態(tài)下骨架對密封材料和鉑絲的約束能力降低的毛病，在高溫振動的情況下，很容易造成短路或斷路，從而無法測溫。
一、 云母鉑電阻：
云母鉑電阻測溫-100-400℃、玻璃鉑電阻測溫-150-500℃（它的較高），內(nèi)繞式陶瓷鉑電阻可測-180-750℃，膜式鉑電阻可測溫-55-550℃。
云母鉑電阻、玻璃鉑電阻都為外繞式，失效的原因主要是骨架和鉑絲熱膨脹系數(shù)不同，在高溫的情況下，鉑絲與骨架間隙過大，從而使鉑絲斷開。
內(nèi)繞式陶瓷鉑電阻失效的原因主要是它的內(nèi)部繞組是彈簧式的，吊放在兩個瓷孔之間，只有氧化鋁或石英砂填充固定，在不振動的情況下還可以工作，只要有強(qiáng)振動就容易造成短路或斷路，因為它用的填充料是不固定的砂狀，所以在高溫振動的情況下，就會活動，鉑絲與石英砂有摩擦磨損。另鉑絲比重比石英砂比重大，所以鉑絲容易下沉，故造成短路或斷路。
二、 膜式鉑電阻：
從根本上解決前幾種形式鉑電阻的缺點，但由于所用金屬太小（一般薄膜厚度為3um左右），它的抗過載電流能力差，當(dāng)焊接時電流誤通過電阻體形成回路使原來的精度改變，另外由于100Ω的電阻絲過于集中于很小的陶瓷片上，使得它的自熱系數(shù)增大，所以它的檢測電流平均值只有0.5mA,而我國目前使用的二次儀表給感溫元件提供的檢測電流為1-5mA,當(dāng)過大的檢測電流通過膜式薄電阻元件時,會使顯示數(shù)值比實際數(shù)值偏高,另膜式鉑電阻大的結(jié)構(gòu)毛病是上下合起來的,電阻體旁邊無法高溫密封,在底溫潮濕的情況下,濕度過大,如果不加外套管保護(hù),濕氣容易進(jìn)入,在很短的時間內(nèi)就被氧化,穩(wěn)定性很差,一般在一個月內(nèi)就被氧化。
三、 整體燒結(jié)簧式陶瓷鉑電阻：
整體燒結(jié)簧式陶瓷鉑電阻綜合了線繞式鉑電阻和膜式鉑電阻的共同于一身，揚長避短，經(jīng)長期艱苦攻關(guān)，精心成功的一種鉑電阻測溫元件，填補(bǔ)了的空白，獲得（200820031580.0）它的結(jié)構(gòu)是鉑絲制作成彈簧式放在陶瓷芯內(nèi)，在用填充料充實并均勻隔離，在真空高溫整體燒結(jié)，所以鉑絲在電阻體內(nèi)被材料均勻固定分離的同時，與陶瓷芯內(nèi)形成鋼筋混凝土結(jié)構(gòu)，從而使鉑電阻絲與陶瓷芯填充料形成一個整體，所以鉑電阻的抗震性和強(qiáng)度較好。
四、耐高溫，耐低溫原理：
在使用溫度范圍內(nèi)，陶瓷是鋼性，鉑絲與填充料是在高溫情況下真空燒結(jié)，所以鉑絲不會因為高溫或低溫，因自身熱膨脹冷縮而脫離損壞陶瓷芯。故鉑絲自身也不可能受到損害。
五、抗過載原理：
過載電流對元件加熱，使元件溫度升高，當(dāng)溫度不過陶瓷芯的軟化、變形溫度時，陶瓷芯仍表現(xiàn)為鋼性（陶瓷芯軟化溫度底在1000℃左右，鉑電阻只測溫幾百度，故不用考慮）。這是取消過載電流標(biāo)準(zhǔn)檢測，發(fā)現(xiàn)元件參數(shù)無變化。
六、穩(wěn)定準(zhǔn)確的原理：
在鋼性陶瓷芯的保護(hù)下，鉑絲無法自由改變阻值及線性規(guī)律。大家都知道鉑是墮性金屬。所以它的特征是無法改變的，而且鉑絲是處在真空狀況。
七、抗震原理：
在強(qiáng)振動的條件下，鉑絲決不會因振動而脫離臺詞芯的鋼性約束，能抗強(qiáng)烈振動。因為鉑絲、填充料和陶瓷芯是在高溫真空情況下整體燒結(jié)而形成的一個整體。
八、耐自熱原理：
我廠元件雖體積為1.2﹡30、1.6﹡30、1.8﹡30、2﹡30、2.5﹡30，但它的鉑絲充分分布在整個電阻體內(nèi)，整個電阻體的體積比膜式電阻大的多，內(nèi)部熱量向外散發(fā)比較均勻，所以比膜式電阻強(qiáng)很多，檢測電流5-10mA，不改變精度，另它可以不加護(hù)套，單獨測溫。
內(nèi)繞式陶瓷鉑電阻該電阻經(jīng)幾年來的市場考驗的大量使用，綜合指標(biāo)高于其他形式的鉑阻，在電動機(jī)、變壓器、軸承、內(nèi)燃機(jī)、汽車、紡織、汽輪發(fā)電機(jī)等強(qiáng)震、高低溫、強(qiáng)磁等場合測溫中為明顯的優(yōu)勢，很多生產(chǎn)**型儀表的廠家為了使產(chǎn)品不會因鉑電阻的原因而影響產(chǎn)品的總體質(zhì)量，都采用整體燒接簧式陶瓷鉑電阻。